1.1 Este método de prueba cubre la medición de corrientes de fuga de transistores y diodos. Estos procedimientos están destinados a la medición de corrientes en el rango de 10 −11 a 10 −3 A. 1.2 Este método de prueba se puede utilizar con un medidor de corriente de tierra virtual o un medidor de corriente de derivación de resistencia. 1.3 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM F769M-95 Historia
2017ASTM F769-00 Método de prueba estándar para medir corrientes de fuga de transistores y diodos (retirado en 2006)