ASTM F769-00 Método de prueba estándar para medir corrientes de fuga de transistores y diodos (retirado en 2006) normas y especificaciones

Alcance: 1.1 Este método de prueba cubre la medición de corrientes de fuga de transistores y diodos. Los dispositivos electrónicos expuestos a radiaciones ionizantes pueden presentar aumentos en la corriente de fuga a medida que aumenta la dosis total acumulada. 1.2 Estos procedimientos están destinados a la medición de corrientes en el rango de 10 -11 a 10 -3 A.1.3 Este método de prueba se puede utilizar con un medidor de corriente de tierra virtual o un medidor de corriente de derivación de resistencia.1.4 Los valores indicados en el Sistema Internacional de Unidades (SI) deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en este método de prueba. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM F769-00 Historia

2017 ASTM F769-00 Método de prueba estándar para medir corrientes de fuga de transistores y diodos (retirado en 2006)