LST EN IEC 60749-20:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los SMD encapsulados en plástico al efecto combinado de la humedad y el calor de soldadura (IEC 60749-20:2020).

Estándar No.

LST EN IEC 60749-20:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

Lithuanian Standards Office

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Remplazado por

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Ultima versión

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LST EN IEC 60749-20:2020 Historia

• 2020 LST EN IEC 60749-20:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los SMD encapsulados en plástico al efecto combinado de la humedad y el calor de soldadura (IEC 60749-20:2020).
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