LST EN IEC 60749-41:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles (IEC 60749-41:2020).

Estándar No.

LST EN IEC 60749-41:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN IEC 60749-41:2020

LST EN IEC 60749-41:2020 Historia

• 2020 LST EN IEC 60749-41:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles (IEC 60749-41:2020).