OVE EN IEC 60749-37:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro (IEC 47/2651/CDV) (versión en inglés).

Estándar No.

OVE EN IEC 60749-37:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

AT-OVE/ON

Ultima versión

OVE EN IEC 60749-37:2020

OVE EN IEC 60749-37:2020 Historia

• 2020 OVE EN IEC 60749-37:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro (IEC 47/2651/CDV) (versión en inglés).