OVE EN IEC 63284:2021
Dispositivos semiconductores - Método de prueba de confiabilidad mediante conmutación de carga inductiva para transistores de nitruro de galio (IEC 47/2681/CDV) (versión en inglés)

Estándar No.

OVE EN IEC 63284:2021

Fecha de publicación

2021

Organización

AT-OVE/ON

Ultima versión

OVE EN IEC 63284:2021

OVE EN IEC 63284:2021 Historia

• 2021 OVE EN IEC 63284:2021 Dispositivos semiconductores - Método de prueba de confiabilidad mediante conmutación de carga inductiva para transistores de nitruro de galio (IEC 47/2681/CDV) (versión en inglés)