OVE EN IEC 60749-10:2021
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto (IEC 47/2692/CDV) (versión en inglés).

Estándar No.

OVE EN IEC 60749-10:2021

Fecha de publicación

2021

Organización

AT-OVE/ON

Ultima versión

OVE EN IEC 60749-10:2021

OVE EN IEC 60749-10:2021 Historia

• 2021 OVE EN IEC 60749-10:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto (IEC 47/2692/CDV) (versión en inglés).