International Organization for Standardization (ISO)
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ISO 18257:2016
Alcance
Este documento especifica los requisitos básicos de diseño de circuitos integrados de semiconductores para aplicaciones espaciales, incluido su proceso de diseño, así como las tareas y requisitos requeridos de cada etapa. No se incluyen los requisitos de diseño de circuito específico.
ISO 18257:2016 Documento de referencia
IEC 61967-2:2005 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas, 150 kHz a 1 GHz - Parte 2: Medición de emisiones radiadas - Método de celda TEM y celda TEM de banda ancha
IEC 62132 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 8: Medición de la inmunidad radiada - Método IC Stripline
IEC 62215-3:2013 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad a los impulsos. Parte 3: Método de inyección transitoria no síncrona.
ISO 10795:2011 Sistemas espaciales - Gestión y calidad de programas - Vocabulario
ISO 18257:2016 Historia
2016ISO 18257:2016 Sistemas espaciales - Circuitos integrados semiconductores para aplicaciones espaciales - Requisitos de diseño