PNS IEC 60749-43:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para planes de calificación de confiabilidad de circuitos integrados.
2021PNS IEC 60749-43:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 43: Directrices para planes de calificación de confiabilidad de circuitos integrados.