PNS IEC 60749-41:2021
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles.

Estándar No.

PNS IEC 60749-41:2021

Fecha de publicación

2021

Organización

PH-BPS

Ultima versión

PNS IEC 60749-41:2021

PNS IEC 60749-41:2021 Historia

• 2021 PNS IEC 60749-41:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de prueba de confiabilidad estándar de dispositivos de memoria no volátiles.