Esta norma especifica el plan de muestreo para los niveles de inspección especiales S1, S-2, S-3 y S-4 según el límite de calidad de aceptación (AQL) = 4 (%). Esta norma es aplicable a la extracción de muestras para pruebas de calidad de productos de discos ópticos.
CY/T 105-2014 Historia
2014CY/T 105-2014 Especificación de prueba de muestreo para la calidad de reproducción del disco óptico