IEC TS 62607-6-4:2016 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 6-4: Grafeno - Medición de la conductancia de la superficie mediante cavidad resonante normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 62607 establece un método para determinar la conductancia superficial de estructuras de grafeno de nanocarbono atómicamente delgadas, bidimensionales (2D), monocapa o multicapa. Estos se sintetizan mediante deposición química de vapor (CVD), crecimiento epitaxial sobre carburo de silicio (SiC), obtenidos a partir de óxido de grafeno reducido (rGO) o exfoliados mecánicamente a partir de grafito [3]. Las mediciones se realizan en una configuración de guía de ondas rectangular estándar R100 llena de aire, en uno de los modos de frecuencia resonante, típicamente a 7 GHz [4]. La medición de la conductancia superficial mediante cavidad resonante implica monitorear el cambio de frecuencia resonante y el cambio en el factor de calidad antes y después de la inserción de la muestra en la cavidad en una correlación cuantitativa con el área de superficie de la muestra. Esta medición no depende explícitamente del espesor de la capa de nanocarbono. No es necesario conocer el espesor de la muestra, pero se supone que la dimensión lateral es uniforme en toda el área de la muestra.

IEC TS 62607-6-4:2016 Documento de referencia

IEC 60153-2:2016 Guías de ondas metálicas huecas - Parte 2: Especificaciones relevantes para guías de ondas rectangulares ordinarias

2016 IEC TS 62607-6-4:2016 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 6-4: Grafeno - Medición de la conductancia de la superficie mediante cavidad resonante