BS IEC 62047-38:2021
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Método de prueba para la resistencia de adhesión de pasta de polvo metálico en interconexión MEMS

Estándar No.

BS IEC 62047-38:2021

Fecha de publicación

2021

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS IEC 62047-38:2021

BS IEC 62047-38:2021 Historia

• 2021 BS IEC 62047-38:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Método de prueba para la resistencia de adhesión de pasta de polvo metálico en interconexión MEMS