IEC 63185:2020
Medición de la permitividad compleja para sustratos dieléctricos de bajas pérdidas método de resonador de disco circular de tipo equilibrado

Estándar No.

IEC 63185:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 63185:2020

Remplazado por

IEC 46F/523/FDIS:2020

Alcance

Este documento se refiere a un método de medición de la permitividad compleja de sustratos dieléctricos en frecuencias de microondas y ondas milimétricas. Este método ha sido desarrollado para evaluar las propiedades dieléctricas de materiales de bajas pérdidas utilizados en circuitos de microondas y ondas milimétricas.

IEC 63185:2020 Historia

• 2020 IEC 63185:2020 Medición de la permitividad compleja para sustratos dieléctricos de bajas pérdidas método de resonador de disco circular de tipo equilibrado