GB/T 20726-2015 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 20726-2015
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2015
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 20726-2015
Reemplazar: GB/T 20726-2006

Alcance: Esta norma especifica los parámetros de rendimiento más importantes que caracterizan las características de los espectrómetros de energía de rayos X (EDS) que se basan en detectores semiconductores, preamplificadores y sistemas de procesamiento de señales. Esta norma se aplica únicamente a los espectrómetros de energía con detectores de semiconductores basados en el principio de ionización de estado sólido. Esta norma especifica los requisitos mínimos y los métodos de verificación para los parámetros de rendimiento del EDS utilizados junto con la microscopía electrónica de barrido (SEM) o la sonda electrónica (EPMA). En cuanto al proceso de análisis propiamente dicho, ya especificado en las normas ISO 22309 y ASTM E1508, queda fuera del alcance de esta norma.

GB/T 20726-2015 Documento de referencia

GB/T 21636-2008 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica (EPMA). Vocabulario

2015 GB/T 20726-2015
2006 GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.