JIS C 5932-2:2019
Aisladores ópticos - Parte 2: Métodos de prueba
Inicio
JIS C 5932-2:2019
Estándar No.
JIS C 5932-2:2019
Fecha de publicación
2019
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Ultima versión
JIS C 5932-2:2019
Reemplazar
JIS C 5933:2012
JIS C 5932-2:2019 Historia
2019
JIS C 5932-2:2019
Aisladores ópticos - Parte 2: Métodos de prueba
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JIS C 5933:2012
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JIS C 5933:1993
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JIS C 5873:1992
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