JIS C 5932-2:2019
Aisladores ópticos - Parte 2: Métodos de prueba

Estándar No.
JIS C 5932-2:2019
Fecha de publicación
2019
Organización
Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Ultima versión
JIS C 5932-2:2019
Reemplazar
JIS C 5933:2012

JIS C 5932-2:2019 Historia




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