BS EN IEC 60749-12:2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable

Estándar No.

BS EN IEC 60749-12:2018

Fecha de publicación

2018

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN IEC 60749-12:2018

Reemplazar

BS EN 60749-12:2002

BS EN IEC 60749-12:2018 Documento de referencia

• EN 60068-2-6 Pruebas ambientales - Parte 2-6: Pruebas - Prueba Fc: Vibración (sinusoidal)
• IEC 60068-2-6 Pruebas ambientales - Parte 2-6: Pruebas - Prueba Fc: Vibración (sinusoidal)

BS EN IEC 60749-12:2018 Historia

• 2018 BS EN IEC 60749-12:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Vibración, frecuencia variable
• 2002 BS EN 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Vibración, frecuencia variable
• 1999 BS EN 60749:1999 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
• 0000 BS 6493-3:1986

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