IEEE 1671.3-2017
Descripción de la unidad bajo prueba (UUT) del lenguaje de marcado de prueba automática (ATML)

Estándar No.

IEEE 1671.3-2017

Fecha de publicación

2017

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE 1671.3-2017

IEEE 1671.3-2017 Historia

• 2017 IEEE 1671.3-2017 Descripción de la unidad bajo prueba (UUT) del lenguaje de marcado de prueba automática (ATML)
• 2007 IEEE 1671.3-2007 Lenguaje de marcado de prueba automático (ATML) para intercambiar información de prueba automática a través de XML (lenguaje de marcado extensible): intercambio de información de descripción de UUT (unidad bajo prueba)