EN IEC 60749-13:2018
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.

Estándar No.

EN IEC 60749-13:2018

Fecha de publicación

2018

Organización

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）

Ultima versión

EN IEC 60749-13:2018

EN IEC 60749-13:2018 Historia

• 2018 EN IEC 60749-13:2018 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.