GB/T 4377-2018
Circuitos integrados semiconductores. Método de medición de reguladores de voltaje. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 4377-2018

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2018

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 4377-2018

Reemplazar

GB/T 4377-1996

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba de parámetros de los reguladores de voltaje (en lo sucesivo, dispositivos). Esta norma se aplica a las pruebas de parámetros de reguladores de voltaje en el campo de los circuitos integrados de semiconductores.

GB/T 4377-2018 Historia

• 2018 GB/T 4377-2018 Circuitos integrados semiconductores. Método de medición de reguladores de voltaje.
• 1996 GB/T 4377-1996 Circuitos integrados semiconductores. Principios generales de los métodos de medición del regulador de voltaje.
• 0000 GB 4377-1984