IEC 62899-402-1:2017
Electrónica impresa - Parte 402-1: Imprimibilidad - Medición de calidades - Ancho del patrón

Estándar No.
IEC 62899-402-1:2017
Fecha de publicación
2017
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 62899-402-1:2017
Reemplazar
IEC 119/133/FDIS:2016
Alcance
Esta parte de IEC 62899 especifica los métodos de medición de los anchos de los patrones impresos en electrónica impresa. Estos anchos de patrones impresos se tratan como bidimensionales sobre un sustrato. Cuando los patrones se ven definitivamente afectados por configuraciones tridimensionales, éstas se especifican en los métodos de medición del espesor en la electrónica impresa.

IEC 62899-402-1:2017 Documento de referencia

  • ISO 291:2008 Plásticos - Atmósferas estándar para acondicionamiento y pruebas.

IEC 62899-402-1:2017 Historia

  • 2017 IEC 62899-402-1:2017 Electrónica impresa - Parte 402-1: Imprimibilidad - Medición de calidades - Ancho del patrón



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