Esta parte de IEC 62899 especifica los métodos de medición de los anchos de los patrones impresos en electrónica impresa. Estos anchos de patrones impresos se tratan como bidimensionales sobre un sustrato. Cuando los patrones se ven definitivamente afectados por configuraciones tridimensionales, éstas se especifican en los métodos de medición del espesor en la electrónica impresa.
IEC 62899-402-1:2017 Documento de referencia
ISO 291:2008 Plásticos - Atmósferas estándar para acondicionamiento y pruebas.
IEC 62899-402-1:2017 Historia
2017IEC 62899-402-1:2017 Electrónica impresa - Parte 402-1: Imprimibilidad - Medición de calidades - Ancho del patrón