KS C IEC 60749-42:2016
Dispositivos semiconductores ― Métodos de prueba mecánicos y climáticos ― Parte 42: Almacenamiento de temperatura y humedad
Inicio
KS C IEC 60749-42:2016
Estándar No.
KS C IEC 60749-42:2016
Fecha de publicación
2016
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C IEC 60749-42-2016(2021)
Ultima versión
KS C IEC 60749-42-2016(2021)
KS C IEC 60749-42:2016 Historia
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2016
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Dispositivos semiconductores ― Métodos de prueba mecánicos y climáticos ― Parte 42: Almacenamiento de temperatura y humedad
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