IEC 60147-3:1970
Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 3: Métodos de medición de referencia.

Estándar No.

IEC 60147-3:1970

Fecha de publicación

1970

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Ultima versión

IEC 60147-3:1970

Remplazado por

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-3:1970 Historia

• 1970 IEC 60147-3:1970 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 3: Métodos de medición de referencia.

IEC 60147-3:1970 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 3: Métodos de medición de referencia. ha sido cambiado a IEC 60747-2:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: diodos rectificadores.

IEC 60147-3:1970 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 3: Métodos de medición de referencia. ha sido cambiado a IEC 60747-1:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 1: Generalidades.

IEC 60147-3:1970 Clasificaciones y características esenciales de los dispositivos semiconductores y principios generales de los métodos de medición. Parte 3: Métodos de medición de referencia. ha sido cambiado a IEC 60747-6:1983 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 6: Tiristores.