ASTM E1172-16
Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda

Estándar No.

ASTM E1172-16

Fecha de publicación

2016

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E1172-22

Ultima versión

ASTM E1172-22

Alcance

4.1 Esta práctica describe los componentes esenciales de un espectrómetro de rayos X dispersivos de longitud de onda. Esta descripción se presenta para que el usuario o usuario potencial pueda obtener una comprensión superficial de la estructura de un sistema de espectrómetro de rayos X. También proporciona un medio para comparar y evaluar diferentes sistemas, así como para comprender las capacidades y limitaciones de cada instrumento. 4.2 Se entiende que un laboratorio puede implementar esta práctica o un método de fluorescencia de rayos X en asociación con un fabricante de la instrumentación analítica. Si un laboratorio decide consultar con un fabricante de instrumentos, se debe considerar lo siguiente. El laboratorio debe tener una idea de las matrices de aleaciones que se analizarán, los elementos y rangos de fracción de masa que se determinarán y los requisitos de rendimiento esperados para cada uno de estos elementos. El laboratorio debe informar al fabricante del instrumento sobre estos requisitos para que pueda desarrollar un método analítico que cumpla con las expectativas del laboratorio. Normalmente, los fabricantes de instrumentos personalizan la configuración del instrumento para satisfacer los requisitos del usuario final en cuanto a cobertura elemental, precisión elemental y límites de detección. Los métodos analíticos desarrollados por el fabricante del instrumento pueden incluir parámetros específicos para la excitación de la muestra, longitudes de onda, correcciones de interferencia entre elementos, calibración y regresión, configuración/instalación del equipo y requisitos de preparación de la muestra. Los laboratorios deben tener un conocimiento básico de los parámetros obtenidos por el fabricante. 1.1 Esta práctica cubre los componentes de un espectrómetro de rayos X dispersivos de longitud de onda que son básicos para su funcionamiento y para la calidad de su desempeño. No es la intención de esta práctica especificar tolerancias de componentes o criterios de rendimiento, ya que son únicos para cada instrumento. Sin embargo, la práctica intenta identificar qué tolerancias son críticas y, por tanto, cuáles deben especificarse. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. Las declaraciones de riesgos de seguridad específicas se dan en 5.3.1.2 y 5.3.2.4, y en la Sección 7.

ASTM E1172-16 Documento de referencia

• ASTM E135 Terminología estándar relacionada con la química analítica de metales, minerales y materiales relacionados
• ASTM E2857 Guía estándar para validar métodos analíticos

ASTM E1172-16 Historia

• 2022 ASTM E1172-22 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
• 2016 ASTM E1172-16 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
• 1987 ASTM E1172-87(2011) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
• 1987 ASTM E1172-87(2003) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
• 1987 ASTM E1172-87(2001) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda
• 1987 ASTM E1172-87(1996) Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X de dispersión de longitud de onda