GB/T 32188-2015
Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 32188-2015

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 32188-2015

Alcance

Esta norma especifica el método para medir el FWHM de la curva de oscilación de un sustrato monocristalino de nitruro de galio mediante el uso de un difractómetro de rayos X de doble cristal. Esta norma se aplica a los sustratos monocristalinos de nitruro de galio cultivados mediante deposición química de vapor y otros métodos.

GB/T 32188-2015 Documento de referencia

• GB/T 14264 Materiales semiconductores-Términos y definiciones

GB/T 32188-2015 Historia

• 2015 GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN