JB/T 12457-2015 Instrumentos de prueba no destructivos. Método de prueba del detector de rayos X para la detección de placas de circuito. (Versión en inglés)
Esta norma especifica los requisitos técnicos y los métodos de prueba para detectores de rayos X (en lo sucesivo denominados detectores) para la inspección de placas de circuito. Esta norma es aplicable a la observación y medición de parámetros de posicionamiento de orificios en placas de circuito impreso multicapa. También se puede utilizar para máquinas de inspección por rayos X que miden la imagen incluyendo la posición central del círculo, la distancia entre puntos, la área de la zona, etc.
JB/T 12457-2015 Documento de referencia
GB 4793.1 Requisitos de seguridad para equipos eléctricos de medición, control y uso en laboratorio. Parte 1: Requisitos generales
GB/T 12604.2 Ensayos no destructivos. Terminología. Términos utilizados en ensayos radiográficos.
GB/T 18268.1 Equipos eléctricos para medición, control y uso en laboratorio. Requisitos EMC. Parte 1: Requisitos generales.
JB/T 12456-2015 Instrumentos de prueba no destructivos. Requisitos técnicos del detector de rayos X para detección de placas de circuito.
JB/T 12457-2015 Historia
2015JB/T 12457-2015 Instrumentos de prueba no destructivos. Método de prueba del detector de rayos X para la detección de placas de circuito.