GJB 8149-2013 (Versión en inglés)

Estándar No.: GJB 8149-2013
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2013
Organización: Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department
Ultima versión: GJB 8149-2013

Alcance: Esta norma especifica el método para medir la reflectividad ultraalta de los componentes ópticos láser mediante el método de cavidad anular hacia abajo. Esta norma es aplicable a la medición de reflectividad ultraalta de elementos ópticos planos con una reflectividad superior al 99,9% y elementos ópticos esféricos con un ángulo de funcionamiento inferior a 10° y un radio de curvatura superior a 10 m. Se puede utilizar como referencia la medición de la alta reflectividad de otros componentes ópticos.

GJB 8149-2013 Historia