VDI/VDE 5575 Blatt 10-2015
Sistemas ópticos de rayos X - Rejillas de difracción
- Estándar No.
- VDI/VDE 5575 Blatt 10-2015
- Fecha de publicación
- 2015
- Organización
- Association of German Mechanical Engineers
- Ultima versión
- VDI/VDE 5575 Blatt 10-2015
- Reemplazar
- VDI/VDE 5575 Blatt 10-2014
- Alcance
- La norma describe rejillas de difracción para la descomposición espectral de rayos X. La ecuación de rejilla, la dispersión y el aumento angular se presentan en detalle como principios físicos. Se describen los diferentes tipos de rejillas de difracción. Se explican métodos para la determinación de propiedades estructurales como la densidad de ranura.
VDI/VDE 5575 Blatt 10-2015 Documento de referencia
- VDI 1000-2010 Trabajo de directrices de VDI: principios y procedimientos
- VDI/VDE 5575 Blatt 1-2009 Sistemas ópticos de rayos X: términos y definiciones
- VDI/VDE 5575 Blatt 2-2015 Sistemas ópticos de rayos X - Métodos de medición - Configuración y métodos de medición para la evaluación de sistemas ópticos de rayos X
- VDI/VDE 5575 Blatt 4-2011 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X - Espejos de reflexión total y espejos multicapa
- VDI/VDE 5575 Blatt 6-2011
VDI/VDE 5575 Blatt 10-2015 Historia
- 2015 VDI/VDE 5575 Blatt 10-2015 Sistemas ópticos de rayos X - Rejillas de difracción
- 2014 VDI/VDE 5575 Blatt 10-2014 Sistemas ópticos de rayos X - rejillas de difracción
