SJ/T 11500-2015
Método de prueba para medir la orientación cristalográfica de carburo de silicio monocristalino. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11500-2015

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 11500-2015

Alcance

Esta norma especifica un método para determinar la orientación del cristal de monocristales de carburo de silicio utilizando el método de orientación por difracción de rayos X. Esta norma es aplicable a la determinación de la orientación cristalina de monocristales de carburo de silicio con formas cristalinas 6H y 4H.

SJ/T 11500-2015 Historia

• 2015 SJ/T 11500-2015 Método de prueba para medir la orientación cristalográfica de carburo de silicio monocristalino.