SJ/T 11487-2015
Método de medición sin contacto para la resistividad de una oblea semiconductora semiaislante. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11487-2015

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 11487-2015

Alcance

Esta norma especifica un método de medición sin contacto para la resistividad de obleas semiconductoras semiaislantes. Esta norma es aplicable a la medición de la resistividad de materiales semiconductores de alta resistencia como el arseniuro de galio semiaislante, el fosfuro de indio y el carburo de silicio. El rango de medición de la resistividad es de 10 Ω·cm~10 Ω·cm.

SJ/T 11487-2015 Historia

• 2015 SJ/T 11487-2015 Método de medición sin contacto para la resistividad de una oblea semiconductora semiaislante.