JB/T 8271-2015 (Versión en inglés)

Alcance: Esta norma especifica los requisitos técnicos, métodos de prueba, reglas de inspección, marcado, embalaje, transporte y almacenamiento de placas de comparación de defectos de superficie de fotoconductores electrofotográficos (en lo sucesivo denominadas placas defectuosas). Esta norma es aplicable a la detección de defectos superficiales de fotoconductores utilizados en equipos de copia electrostática (impresión, fax, multifunción) y los correspondientes defectos de impresión en el material impreso.

JB/T 8271-2015 Historia

2015 JB/T 8271-2015 Escala de comparación para defectos superficiales del fotoconductor del proceso de copia electrostática
1999 JB/T 8271-1999 Cuadro de prueba para detectar defectos en la superficie del fotoconductor para el proceso de copia electrostática
0000 JB/T 8271-1995