GB/T 31359-2015
Métodos de prueba de láseres semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 31359-2015

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 31359-2015

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba para los principales parámetros fotoeléctricos de los láseres semiconductores. Esta norma se aplica a las pruebas de los principales parámetros fotoeléctricos de los láseres semiconductores. Los componentes láser semiconductores se pueden implementar con referencia.

GB/T 31359-2015 Documento de referencia

• GB 7247.1 Seguridad de los productos láser. Parte 1: Clasificación y requisitos de los equipos.
• GB/T 10320 Seguridad eléctrica de equipos e instalaciones láser.
• GB/T 15313 Terminología para láser
• GB/T 31358-2015 Especificaciones generales para láseres semiconductores.

GB/T 31359-2015 Historia

• 2015 GB/T 31359-2015 Métodos de prueba de láseres semiconductores.