General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión
GB/T 30653-2014
Alcance
Esta norma especifica el método para probar la calidad del cristal de obleas epitaxiales de nitruro III mediante un difractómetro de rayos X de alta resolución. Esta norma se aplica a la prueba de calidad de cristalización de obleas epitaxiales heterogéneas de nitruros (Ga, In, Al) N de una o varias capas. La prueba de calidad del cristal de otras obleas epitaxiales heterogéneas también puede hacer referencia a esta norma.
GB/T 30653-2014 Historia
2014GB/T 30653-2014 Método de prueba para la calidad del cristal de capas epitaxiales de Ⅲ-nitruro