KS D ISO 9220:2009
Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido

Estándar No.

KS D ISO 9220:2009

Fecha de publicación

2009

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS D ISO 9220-2009(2017)

Ultima versión

KS D ISO 9220-2009(2022)

Reemplazar

KS D ISO 9220:1999

Alcance

Este estándar mide el espesor local de la capa de recubrimiento observando la sección transversal del recubrimiento metálico utilizando un microscopio electrónico de barrido (SEM).

KS D ISO 9220:2009 Historia

• 0000 KS D ISO 9220-2009(2022)
• 0000 KS D ISO 9220-2009(2017)
• 2009 KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
• 0000 KS D ISO 9220:1999