KS D 0078-2008
Método de prueba para la determinación de concentraciones de impurezas en cristales de silicio mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.

Estándar No.

KS D 0078-2008

Fecha de publicación

2008

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS D 0078-2008(2018)

Ultima versión

KS D 0078-2008(2018)

Reemplazar

KS D 0078-1998

Alcance

Esta norma cubre un método para la determinación de concentraciones de impurezas de silicio monocristalino y policristalino mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.

KS D 0078-2008 Historia

• 0000 KS D 0078-2008(2018)
• 2008 KS D 0078-2008 Método de prueba para la determinación de concentraciones de impurezas en cristales de silicio mediante espectroscopia de fotoluminiscencia.
• 0000 KS D 0078-1998