KS C IEC 60749-6:2004
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura

Estándar No.

KS C IEC 60749-6:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-6:2020

Ultima versión

KS C IEC 60749-6:2020

Alcance

Esta norma especifica que todos los dispositivos eléctricos semiconductores se pueden almacenar a altas temperaturas sin aplicar estrés eléctrico.

KS C IEC 60749-6:2004 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-6:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
• 2004 KS C IEC 60749-6:2004 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura