KS C IEC 60749-39:2006
Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 39: Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores

Estándar No.

KS C IEC 60749-39:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-39-2006(2016)

Ultima versión

KS C IEC 60749-39-2006(2021)

Alcance

Esta norma mide la difusividad de la humedad (difusividad de la humedad) de los materiales orgánicos utilizados en el embalaje de componentes semiconductores.

KS C IEC 60749-39:2006 Historia

• 0000 KS C IEC 60749-39-2006(2021)
• 0000 KS C IEC 60749-39-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-39:2006 Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 39: Medición de la difusividad de la humedad y la solubilidad en agua en materiales orgánicos utilizados para componentes semiconductores