KS C IEC 60749-34:2006
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 34: Ciclos de energía

Estándar No.

KS C IEC 60749-34:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-34:2017

Ultima versión

KS C IEC 60749-34-2017(2022)

Alcance

Este método de prueba mide el consumo de energía debido al ciclo de la matriz interna del semiconductor y los conectores internos.

KS C IEC 60749-34:2006 Historia

• 0000 KS C IEC 60749-34-2017(2022)
• 2017 KS C IEC 60749-34:2017 Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 34: Ciclos de energía
• 2006 KS C IEC 60749-34:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 34: Ciclos de energía