KS C IEC 60749-22:2004
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 22: Fuerza de unión

Estándar No.

KS C IEC 60749-22:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-22:2020

Ultima versión

KS C IEC 60749-22:2020

Alcance

Esta norma es aplicable a dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados) El propósito de esta norma es

KS C IEC 60749-22:2004 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-22:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 22: Fuerza de unión.
• 2004 KS C IEC 60749-22:2004 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 22: Fuerza de unión