KS C IEC 60749-13:2002
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 13: Atmósfera salina

Estándar No.

KS C IEC 60749-13:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-13:2020

Ultima versión

KS C IEC 60749-13:2020

Alcance

Esta norma especifica pruebas ambientales en agua salada para determinar la resistencia a la corrosión de los dispositivos semiconductores.

KS C IEC 60749-13:2002 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-13:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 13: Atmósfera salina.
• 2002 KS C IEC 60749-13:2002 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 13: Atmósfera salina