KS C 6049-1980
Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para circuitos integrados de semiconductores

Estándar No.

KS C 6049-1980

Fecha de publicación

1980

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C 6049-1980(2020)

Ultima versión

KS C 6049-1980(2020)

Alcance

Esta norma cubre el uso de circuitos integrados (excluidos los circuitos integrados híbridos) utilizados principalmente en dispositivos electrónicos industriales y de consumo.

KS C 6049-1980 Historia

• 0000 KS C 6049-1980(2020)
• 1980 KS C 6049-1980 Métodos de prueba ambiental y métodos de prueba de resistencia para circuitos integrados de semiconductores