KS B ISO 11254-1:2013 ¿Láseres y equipos relacionados con el láser?; ¿Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas?; Parte 1: prueba 1 a 1
Esta norma especifica un método de prueba para determinar el umbral de daño (LIDT) de la superficie de un dispositivo óptico para radiación láser inducida de un solo disparo. El procedimiento de prueba es aplicable a todas las combinaciones de diferentes longitudes de onda láser y longitudes de pulso. Sin embargo, existe un riesgo de error al comparar los datos del umbral de daño del láser sin mediciones con la misma longitud de onda, longitud de pulso y diámetro del haz. La aplicación de esta norma se limita potencialmente a daños irreparables a la superficie de los dispositivos fotónicos.
KS B ISO 11254-1:2013 Historia
0000 KS B ISO 11254-1-2015(2020)
2015KS B ISO 11254-1:2015 Láseres y láser ― equipos relacionados ― Determinación del láser ― umbral de daño inducido de superficies ópticas ― Parte 1: Prueba 1 a 1
2013KS B ISO 11254-1:2013 ¿Láseres y equipos relacionados con el láser?; ¿Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas?; Parte 1: prueba 1 a 1
2003KS B ISO 11254-1:2003 Láser y equipos relacionados con el láser. Determinación del umbral de daño inducido por láser en superficies ópticas. Parte de la prueba 1:1 a 1.