VDI/VDE/DGQ 2618 Blatt 4.4-2009 Inspección de equipos de medición y prueba: instrucciones de prueba para calibres de referencia con caras de medición planas paralelas o esféricas y para calibres de extremo esférico y calibradores internos.
Esta parte de la directriz se aplica a las pruebas de calibres de extremo esférico y calibres internos, así como a calibres de referencia cuyas caras de medición son planas paralelas, representan segmentos de una superficie conjunta esférica o cilíndrica, o tienen un plano y una esférica. Cara de medición (preferiblemente para el ajuste de micrómetros). Se describen las secuencias de trabajo necesarias.
VDI/VDE/DGQ 2618 Blatt 4.4-2009 Documento de referencia
DIN 876-1:1984 Placas de superficie; placas de superficie de roca dura natural; requisitos y pruebas
DIN EN ISO 3650:1999 Especificaciones geométricas de producto (GPS) - Normas de longitud - Bloques patrón (ISO 3650:1998); Versión alemana EN ISO 3650:1998
DIN ISO 286-1:1990 Sistema ISO de límites y ajustes; bases de tolerancias, desviaciones y ajustes; idéntico a ISO 286-1:1988
DIN ISO 286-2:1990 Sistema ISO de límites y ajustes; tablas de grados de tolerancia estándar y desviaciones límite para agujeros y ejes; idéntico a ISO 286-2:1988
VDI 1000-2006 Trabajo político: principios y orientación
VDI/VDE/DGQ 2618 Blatt 1.1-2001 Inspección de equipos de medición y prueba - Instrucciones para inspeccionar equipos de medición y prueba de cantidades geométricas - Principios básicos
VDI/VDE/DGQ 2618 Blatt 1.2-2003 Inspección de equipos de medición y prueba - Instrucciones para la inspección de equipos de medición y prueba de cantidades geométricas - Incertidumbre de medición
VDI/VDE/DGQ 2618 Blatt 4.4-2009 Historia
2009VDI/VDE/DGQ 2618 Blatt 4.4-2009 Inspección de equipos de medición y prueba: instrucciones de prueba para calibres de referencia con caras de medición planas paralelas o esféricas y para calibres de extremo esférico y calibradores internos.
2006VDI/VDE/DGQ 2618 Blatt 4.4-2006 Inspección de equipos de medición y prueba: instrucciones de prueba para establecer estándares para micrómetros