NF X30-495*NF EN 16424:2014
Caracterización de residuos - Métodos de detección de la composición de elementos mediante instrumentos portátiles de fluorescencia de rayos X

Estándar No.
NF X30-495*NF EN 16424:2014
Fecha de publicación
2014
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
NF X30-495*NF EN 16424:2014
Alcance
Esta norma europea se refiere a equipos de fluorescencia de rayos X (XRF) transportables in situ (laboratorio manual o portátil) y especifica un método de detección para la determinación de la composición elemental de los residuos para su verificación in situ. Los espectrómetros XRF portátiles se utilizan para análisis exploratorios rápidos de materiales pastosos o sólidos. La ausencia o presencia de elementos específicos aparece a nivel cualitativo con indicación del nivel de concentración.

NF X30-495*NF EN 16424:2014 Documento de referencia

NF X30-495*NF EN 16424:2014 Historia

  • 2014 NF X30-495*NF EN 16424:2014 Caracterización de residuos - Métodos de detección de la composición de elementos mediante instrumentos portátiles de fluorescencia de rayos X



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