DIN 50451-6:2014
Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de trazas de elementos en líquidos. Parte 6: Determinación de 36 elementos en una solución de fluoruro de amonio de alta pureza (NH4F) y en mezclas de grabado de solución de fluoruro de amonio de alta pureza.

Estándar No.
DIN 50451-6:2014
Fecha de publicación
2014
Organización
German Institute for Standardization
Estado
Remplazado por
DIN 50451-6:2014-11
Ultima versión
DIN 50451-6:2014-11
Reemplazar
DIN 50451-6:2012

DIN 50451-6:2014 Documento de referencia

  • DIN 32645:2008 Análisis químico - Límite de decisión, límite de detección y límite de determinación en condiciones de repetibilidad - Términos, métodos, evaluación
  • DIN 50451-5:2010 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de oligoelementos en líquidos. Parte 5: Directrices para la selección de materiales y pruebas de su idoneidad para aparatos de muestreo y preparación de muestras para la determinación de t.
  • DIN EN ISO 17294-2:2005 Calidad del agua - Aplicación de espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente (ICP-MS) - Parte 2: Determinación de 62 elementos (ISO 17294-2:2003); Versión alemana EN ISO 17294-2:2004
  • DIN EN ISO 8655-2:2002 Aparato volumétrico de pistón. Parte 2: Pipetas de pistón (ISO 8655-2:2002); Versión alemana EN ISO 8655-2:2002
  • DIN ISO 5725-2:2002 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición. Parte 2: Método básico para la determinación de la repetibilidad y reproducibilidad de un método de medición estándar (ISO 5725-2:1994, incluido el corrigendum técnico 1:2002).
  • DIN ISO 5725-4:2003 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición. Parte 4: Métodos básicos para la determinación de la veracidad de un método de medición estándar (ISO 5725-4:1994)

DIN 50451-6:2014 Historia

  • 2014 DIN 50451-6:2014-11 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores - Determinación de trazas de elementos en líquidos - Parte 6: Determinación de 36 elementos en una solución de fluoruro de amonio de alta pureza (NH<(Index)4>F) y en mezclas de grabado de amonio de alta pureza. ..
  • 2014 DIN 50451-6:2014 Ensayos de materiales para la tecnología de semiconductores. Determinación de trazas de elementos en líquidos. Parte 6: Determinación de 36 elementos en una solución de fluoruro de amonio de alta pureza (NH4F) y en mezclas de grabado de solución de fluoruro de amonio de alta pureza.
  • 1970 DIN 50451-6 E:2012-11
  • 0000 DIN 50451-6:2012



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