IEC 62047-20:2014
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 20: Giroscopios

Estándar No.

IEC 62047-20:2014

Fecha de publicación

2014

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 62047-20:2014

Reemplazar

IEC 47F/188/FDIS:2014

Alcance

Esta parte de IEC 62047 especifica términos y definiciones @ clasificaciones y características @ y métodos de medición de giroscopios. Los giroscopios se utilizan principalmente para industrias de consumo en general y aplicaciones aeroespaciales. Los MEMS y los láseres semiconductores se utilizan ampliamente en la tecnología de dispositivos de giroscopios. En adelante, el giroscopio se denominará giroscopio.

IEC 62047-20:2014 Historia

• 2014 IEC 62047-20:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 20: Giroscopios