JIS K 0152:2014
Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.

Estándar No.

JIS K 0152:2014

Fecha de publicación

2014

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0152:2014

JIS K 0152:2014 Documento de referencia

• JIS K 0145 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía

JIS K 0152:2014 Historia

• 2014 JIS K 0152:2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.