Esta norma especifica métodos de determinación semicuantitativos y cualitativos para la composición de materiales bimetálicos compuestos y materiales compuestos de contacto eléctrico. Esta norma es aplicable a la determinación de la composición de cada elemento (fracción de masa >0,1%) en materiales bimetálicos compuestos excepto elementos ligeros como C y O. Esta norma es aplicable a la determinación cualitativa de materiales compuestos de contactos eléctricos y al análisis semicuantitativo de elementos principales. Esta norma se aplica al análisis cuantitativo utilizando espectrómetros de longitud de onda de rayos X. Su contenido principal y principios básicos también se aplican a los espectrómetros de energía de rayos X utilizados junto con microscopios electrónicos de barrido.
JB/T 12074-2014 Documento de referencia
GB/T 15074 Guía general de análisis cuantitativo por EPMA
GB/T 4930 Análisis de microhaces—Microanálisis con sonda electrónica—Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)*, 2021-05-21 Actualizar