KS C IEC 60749-4:2003
Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST)

Estándar No.

KS C IEC 60749-4:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-4:2020

Ultima versión

KS C IEC 60749-4:2020

Alcance

Esta norma tiene como objetivo evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no sellados en un ambiente húmedo.

KS C IEC 60749-4:2003 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-4:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST).
• 2003 KS C IEC 60749-4:2003 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST)