La prueba de radiación de neutrones es una prueba de resistencia (susceptibili) de dispositivos semiconductores debido al deterioro en un entorno de neutrones.
KS C IEC 60749-17:2006 Historia
2021KS C IEC 60749-17:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 17: Irradiación de neutrones.
0000 KS C IEC 60749-17-2006(2016)
2006KS C IEC 60749-17:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 17: Irradiación de neutrones